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    安檢機(jī)X射線檢測(cè)系統(tǒng)成像

    2023-02-20





    平板探測(cè)器是X射線成像系統(tǒng)的核心部件,其特性決定了X射線檢測(cè)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。檢測(cè)器的尺寸應(yīng)足夠大,以滿足實(shí)際檢測(cè)要求。對(duì)于大型檢測(cè)對(duì)象,可以先拍攝多個(gè)單個(gè)圖像,然后拼接在一起,形成完整的馬賽克圖像。平板探測(cè)器的空間分辨率由探測(cè)器像素單元的大小決定,包括收集器的大小和這些組件之間的間距大小。檢測(cè)器組件的尺寸和距離僅提供系統(tǒng)的大空間分辨率。由于光散射或電荷擴(kuò)散,探測(cè)器的有效空間分辨率將丟失,但對(duì)于直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器,有效空間分辨率接近大空間分辨率。作為信號(hào)讀取機(jī)制的平板檢測(cè)器的幾何填充因子是像素存儲(chǔ)電容所占據(jù)的像素面積的倒數(shù)。像素越小,幾何填充因子越低。這是因?yàn)槌上裣袼氐某叽巛^小,因此分辨率越高,幾何填充因子越低,量子檢測(cè)效率越低。分辨率和量子探測(cè)效率相互制約。通過(guò)使用平板檢測(cè)器獲得的圖像的大小取決于灰度分辨率和像素矩陣的大小。


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